uv紫外可見分光光度計(jì)日常維護(hù)保養(yǎng)：
1.樣品室單元的清潔、拆卸、安裝
1.1樣品室單元的清潔
樣品需放置在樣品室內(nèi)測量，操作時(shí)稍不留意液體樣品就會(huì)灑倒在樣品室里，應(yīng)立即擦干清理，尤其是高濃度酸性易揮發(fā)液體樣品，如果不及時(shí)清理，會(huì)揮發(fā)充斥樣品室，腐蝕機(jī)器內(nèi)部組件并干擾測量準(zhǔn)確性。許多分光光度計(jì)故障現(xiàn)象都和樣品室灑倒樣品沒有被及時(shí)清理有關(guān)，如果不小心將樣品灑倒在樣品室底部，就應(yīng)拆下樣品室單元后再進(jìn)行清潔。
1.2樣品室單元拆卸步驟
松開位于樣品室底部的固定螺釘，打開樣品室蓋，沿從定位銷退出豁口的方向拉動(dòng)樣品單元，如圖3所示。之后微抬樣品室單元，以一定角度將樣品室單元拉出。注意，禁止松開定位銷，退出豁口不需要松開定位銷。
1.3樣品室單元安裝步驟
打開樣品室蓋，以一定角度從上方將樣品室單元上的豁口插入定位銷，向前推樣品室單元使豁口被定位銷卡住，確保樣品室單元前蓋與主機(jī)緊密貼合，否則可能導(dǎo)致漏光，影響測量結(jié)果。之后，擰緊樣品室固定螺釘，固定樣品室單元。
2.更換光源燈
uv紫外可見分光光度計(jì)使用兩種光源燈，即鹵鎢燈和氘燈，都屬于消耗品，光源使用時(shí)間越接近額定使用時(shí)間，光源能量越小，噪聲就會(huì)變大。額定使用時(shí)間是光源生產(chǎn)商根據(jù)大量光源的平均使用時(shí)間來確定的。這兩種燈的額定使用時(shí)間大約是2000h。
換燈時(shí)步驟如下：
松開光源室蓋邊上的固定螺釘，推開光源室蓋并以一定角度取下光源室蓋，露出鹵鎢燈和氘燈，光源室如圖4所示。
更換鹵鎢燈：戴上手套，取下燈頂部的固定彈簧片；沿水平方向用力，取下鹵鎢燈，注意不要污染光束出口；安裝時(shí)按相反步驟安裝。
更換氘燈：戴上手套，拿住氘燈樹脂部分緩慢向上拔；用力方向垂直于桌面；安裝時(shí)將新燈底部凸耳與燈座凹槽對應(yīng)，垂直插入。
換燈時(shí)還需注意：關(guān)閉電源并待光源燈充分冷卻，避免在燈泡上留下指紋，特別是燈的光束出口處不能被污染，留在燈泡上的指紋會(huì)在燈變熱時(shí)燒結(jié)而降低燈泡的透過性，安裝新鹵鎢燈時(shí)燈腳對準(zhǔn)燈座插孔，不可左右上下晃動(dòng)，否則極易弄斷燈腳損壞燈。換燈完畢，打開電源，開機(jī)進(jìn)入初始化界面。如果換燈正常，就會(huì)顯示各對應(yīng)項(xiàng)“OK”。3.3顯示時(shí)間
顯示時(shí)間不能更改，用戶時(shí)間參數(shù)保存在主板RAM中，供電電池型號是CR2032H，安裝在主板左上方位置，如圖5所示。使用幾年后的機(jī)器，電池電壓下降，當(dāng)不能存儲(chǔ)用戶時(shí)間參數(shù)時(shí)，需打開機(jī)蓋更換電池。RAM本身損壞的概率很小，一般都是由于RAM工作電池電壓降低造成不能存儲(chǔ)時(shí)間數(shù)據(jù)。
3.光度值不穩(wěn)的原因和處理措施
（1）光源燈關(guān)閉或能量不足。首先，觀察燈是否點(diǎn)亮，若未點(diǎn)亮，檢查風(fēng)扇運(yùn)轉(zhuǎn)是否正常，若風(fēng)扇運(yùn)轉(zhuǎn)正常，燈也能點(diǎn)亮，則表明燈能量不足，需換燈。
（2）在測定過程中錯(cuò)誤按下調(diào)零鍵，應(yīng)返回到空白參比條件并再次按下調(diào)零鍵。
（3）在紫外區(qū)不能使用玻璃樣品池，造成讀數(shù)不穩(wěn)，應(yīng)正確選擇樣品池。
（4）在測定時(shí)，受到強(qiáng)電磁場干擾，應(yīng)去除無線電干擾環(huán)境后，再次測量。
（5）檢測板或主板故障。排除上述因素后更換檢測板或主板，主板型號206-24971B。
4.光源鏡
光源鏡起到光源切換并將光反射到單色器內(nèi)的作用。它安裝在暗盒之外，較易受到環(huán)境灰塵污染，樣品中的高濃度揮發(fā)性酸性氣體也易侵蝕鏡面。鏡面光潔度降低后，在初始化時(shí)會(huì)出現(xiàn)燈能量不足現(xiàn)象。在使用過程中，應(yīng)注意保持使用環(huán)境清潔，揮發(fā)性酸性氣體樣品應(yīng)遠(yuǎn)離光源室，操作時(shí)若樣品液體灑濺到樣品室后要及時(shí)擦除干凈。觀察到鏡面有灰塵時(shí)，可用氣體吹掃鏡面；鏡面有腐蝕斑塊時(shí)，應(yīng)更換光源鏡。
一般廠家更換光源鏡的周期推薦值是3年，部件型號205-83651。
5.基線誤差超標(biāo)
基線包括平坦度和穩(wěn)定性兩項(xiàng)指標(biāo)。打開光源后1h，平坦度應(yīng)達(dá)到±0.0006Abs（190～1100nm）；穩(wěn)定性應(yīng)在0.0003Abs/h以內(nèi)（700nm）。在分光光度計(jì)安裝后一般多用基線平坦度來檢查基線性能。
在基線校正時(shí)，應(yīng)注意在樣品側(cè)和參比側(cè)放置同樣的溶液再進(jìn)行基線校正，原則是設(shè)置的光束條件使樣品側(cè)和參比側(cè)光束相同，在校正時(shí)不能進(jìn)行其他操作。如仍然誤差超標(biāo)，一般是電路、檢測板、主板問題。電路上出現(xiàn)問題的可能性較大，應(yīng)重點(diǎn)檢查。可用濾光片或標(biāo)準(zhǔn)液在單一波長下測量，若測量誤差很大，嚴(yán)重時(shí)會(huì)顯示±4Abs值不變，不能測量，這時(shí)應(yīng)更換檢測板或主板。
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